■ 測量電鍍和硬膜的粘附強度。 施加高達 30 kg 的負載時，可以進行劃痕測量。它用于評估 DLC 和 TiN
■ 測量薄膜的粘附強度。它用于前工程和擴散過程中的沉積和清洗條件的選擇。用于評估 DLC、ITO、ZnO、SiO、SiN 等。 適用于光學薄膜、記錄光盤、 半導體等的評估
■ CSR 1000
■ CSR 5100
■ 測量符合 ISO 20502標準
■ 測量符合 JIS R 3255 標準
敬請期待
